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主要技术指标：熔点测试范围：50-350℃；测量误差：< 0.5℃；最小温度读数：0.1℃；...查看更多 -
主要技术指标：DEA主机可容纳7个DEA数据通道（温度测量和数据采集模块），可扩展至14个...查看更多 -
主要技术指标：温度范围：室温-400℃；动态位移范围：1-100um；位移分辨：20nm；力量程...查看更多 -
主要技术指标：导热系数测量范围：0.005-0.35W/m.K； 工作温度范围：-20-75℃；&...查看更多 -
主要技术指标：微处理器控制设备的升温，升温速率为50℃/h和120℃/h可选；工作温度：室...查看更多 -
主要技术指标：温度范围：-70-600℃；温度精度：±1℃；炉体冷却时间（空气冷却）：&l...查看更多